Virtual Scanning Electron Microscopy
Cuando el tutorial se carga por primera vez, el espécimen está desenfocado y el brillo y el contraste no están optimizados.
Nos hemos asociado con el galardonado microscopista electrónico Dr. Dennis Kunkel para producir una serie de tutoriales interactivos que exploran varios aspectos de la microscopía electrónica de barrido virtual (vSEM). Utilice el tutorial a continuación para descubrir cómo aparecen los especímenes cuando se magnifican en el SEM virtual.
Cuando el tutorial se carga por primera vez, el espécimen está desenfocado y el brillo y el contraste no están optimizados. Utilice el control deslizante Foco para lograr el enfoque y los controles deslizantes Contraste y Brillo para optimizar el aspecto de la muestra. A continuación, utilice el control deslizante Ampliación para aumentar lentamente la ampliación. Las imágenes de ampliación más altas se cargan en segundo plano, así que por favor, tenga paciencia y conceda un tiempo para que estas imágenes se descarguen en la caché del navegador. Utilice la barra de menú desplegable para cambiar las muestras. Cada vez que se carga un nuevo espécimen en el navegador, los controles de enfoque, brillo y contraste se reinician aleatoriamente para simular la situación en un microscopio real.
Temas relacionados:
Esta web se reserva el derecho de suprimir, por cualquier razón y sin previo aviso, cualquier contenido generado en los espacios de participación en caso de que los mensajes incluyan insultos, mensajes racistas, sexistas... Tampoco se permitirán los ataques personales ni los comentarios que insistan en boicotear la labor informativa de la web, ni todos aquellos mensajes no relacionados con la noticia que se esté comentando. De no respetarse estas mínimas normas de participación este medio se verá obligado a prescindir de este foro, lamentándolo sinceramente por todos cuantos intervienen y hacen en todo momento un uso absolutamente cívico y respetuoso de la libertad de expresión.
No hay opiniones. Sé el primero en escribir.
